- ISO 17470:2004
- изд.1 E TC 202/SC 2Анализ с использованием микропучка. Электронно- зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии—————раздел 71.040.99
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.